1、局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)檢測(cè)是一種非破壞性試驗(yàn)在導(dǎo)體和電纜金屬屏蔽層之間施加工頻電壓，絕緣中的微孔、雜質(zhì)、金屬顆粒，內(nèi)外屏蔽中破洞和凸出物等，在電錫作用下，均會(huì)產(chǎn)生局部放電量。放電量常用微微庫(kù)倫（pC）來(lái)表示。對(duì)于交聯(lián)聚乙烯電纜，因絕緣缺陷而導(dǎo)致電纜擊穿的主要原因是局部放電，使絕緣在工作電壓下不發(fā)生局部放電或不超過一定量的局部放電，可以保證絕緣的長(zhǎng)期工作可靠性。因此，為了保障電纜的可靠運(yùn)行，把整盤電纜的局部放電試驗(yàn)列入電纜的例行試驗(yàn)是非常重要的，世界上幾乎所有國(guó)家都有該項(xiàng)目的考核標(biāo)準(zhǔn)。我國(guó)近出版的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)已由原來(lái)的1.5U0試驗(yàn)電壓下，局放大為20Pc，改為1.73U0，局放為10Pc。目前國(guó)內(nèi)有的提供廠內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)局放由大為10Pc降至為5Pc。

2、局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)測(cè)試原理絕緣中發(fā)生局部放電時(shí)，引起電、化、光、聲熱各種效應(yīng)，利用這些效應(yīng)而有多種局部放電檢測(cè)方法。目前采用廣泛的高頻電脈沖方法，具有較高的靈敏度，可以測(cè)量放電量為微微庫(kù)的微弱信號(hào)。當(dāng)試品上的外加電壓逐漸升高，達(dá)到絕緣中氣隙的放電電場(chǎng)強(qiáng)度時(shí)，氣隙中就發(fā)生放電。在試品兩端引起壓降△U引起了試驗(yàn)回路中電荷重新分配的暫態(tài)過程，高頻脈沖電流在試樣電容，耦合電容器及測(cè)量阻抗上造成了一微弱的放電脈沖信號(hào)。通過放大器加以放大，然后再通過示波器將放電信號(hào)顯示出來(lái)，以便觀察和記錄。

3、局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)測(cè)試方法試驗(yàn)電壓應(yīng)加在導(dǎo)電線芯和金屬屏蔽之間，電纜的試驗(yàn)電壓應(yīng)平穩(wěn)升高到1.2倍試驗(yàn)電壓，但時(shí)間不得超過1min，此后，緩慢的下降到規(guī)定的試驗(yàn)電壓，此時(shí)可測(cè)量局部放電量，之后降壓至零。